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X射線檢測在安全篩查、醫學成像、質量控制和缺陷檢查中至關重要。金屬鹵化物鈣鈦礦因其製備簡單、光電性能優良、衰減係數高而成為電離輻射探測的理想材料。一方面,為了完全吸收入射的x射線光子,x射線探測器需要相對較厚的活性層。另一方面,在提升了活性層的厚度之後,也需要進一步提高載流子輸運能力才能保證較好的探測性能。相對於傳統無機半導體,雜化鈣鈦礦材料的載流子遷移率和壽命還相對較小。

為了解決上述問題,武漢大學林乾乾教授團隊從提升材料遷移率的角度出發,通過一系列金屬離子摻雜並測試其對載流子輸運特性的影響,發現Ag離子的摻雜對於其遷移率有着最好的提升效果。於是,我們在鈣鈦礦前驅體中加入AgI,並系統地研究它們的光電特性,如圖1所示,我們發現通過變化AgI摻雜的比例,我們獲得了2% AgI 摻雜的最佳摻雜比例。在確定了摻雜方式之後,為了獲得具有足夠厚度的厚膜,我們採用了噴塗的方式,如圖2所示,製備並優化了鈣鈦礦X射線探測器。結果表明,優化的AgI加入鈣鈦礦薄膜具有最高的遷移壽命,x射線靈敏度可達3433 μGyair-1cm-2,超低檢出限為3.5 nGyairs-1,表明其具有很大的x射線檢測潛力。相關成果以標題為「Spray-coating of AgI incorporated metal halide perovskites for high-performance X-ray detection「發表在《Chemical Engineering Journal》。武漢大學物理科學與技術學院碩士研究生賈正林為論文第一作者。

圖1. 鈣鈦礦樣品的溫度依賴電導率(a)在黑暗中測量,(b)在照明下測量(5 mW cm-2),(c)載流子動力學和(d)由時間分辨微波電導率確定的遷移率壽命乘積。


圖2. 鈣鈦礦x射線探測器的噴塗工藝示意圖及器件結構。


圖3. (a)不同AgI濃度x射線探測器的器件性能,(b)優化的x射線探測器的偏置電壓相關靈敏度,(c)黑暗和x射線下的J-V曲線,(d)噪聲譜,(e)時間響應和(d)優化的AgI摻雜鈣鈦礦x射線探測器的檢測限。

原文鏈接https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S1385894722037123

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